絕緣電阻功能超高壓變頻介質(zhì)損耗測試儀的能量損耗怎么計(jì)算？一、使用說明

1.1、主菜單

打開電源開關(guān)，進(jìn)入主菜單（如圖5—1）；選擇界面右邊相應(yīng)的測試選項(xiàng)進(jìn)行測量。

※ 注：  儀器啟動測試后，緊急情況若停止，只能按緊急停機(jī)，不要按復(fù)位。

1.2、一般測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，然后點(diǎn)擊主界面“一般測試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等一般測試菜單（如圖5—2）。然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單（如圖5—3）進(jìn)行詳細(xì)的測試參數(shù)設(shè)置。

分別點(diǎn)擊每個需要設(shè)置的項(xiàng)目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測試界面，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測試界面。

相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長按“啟動測試”單，進(jìn)入測試菜單。測試過程中電壓值一項(xiàng)是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑上升至設(shè)置值后保持不變，然后自動開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的測試頻率自動變頻到各相應(yīng)的頻率進(jìn)行測試，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—4）；測試結(jié)果自動保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

注   意：每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請查看第六章“參考接線” 。

絕緣電阻功能超高壓變頻介質(zhì)損耗測試儀的能量損耗怎么計(jì)算？1.3、CVT測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線，然后點(diǎn)擊主界面“CVT測試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等CVT測試菜單（如圖5—5）。然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單（如圖5—6）進(jìn)行詳細(xì)的測試參數(shù)設(shè)置。分別點(diǎn)擊每個需要設(shè)置的項(xiàng)目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回CVT測試界面，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回CVT測試界面。

相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長按“啟動測試”單，進(jìn)入測試菜單（如圖5—7）。測試過程中電壓值一項(xiàng)是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑至設(shè)置值后保持不變，然后自動開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的干擾頻率自動變頻到相應(yīng)的頻率進(jìn)行測試，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—8）。測試結(jié)果自動保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

注    意：每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請查看第六章“參考接線” 。

絕緣電阻功能超高壓變頻介質(zhì)損耗測試儀的能量損耗怎么計(jì)算？1.4、CVT變比測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線， 進(jìn)入CVT測試菜單在參數(shù)設(shè)置中選擇“CVT變比測試”，然后返回開始測試界面（如圖5—9），長按“啟動測試”開始測量（如圖5—10），測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—11）。測試結(jié)果自動保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。  

絕緣電阻功能超高壓變頻介質(zhì)損耗測試儀的能量損耗怎么計(jì)算？1.5、正反同測

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線， 進(jìn)入正反同測菜單，在參數(shù)設(shè)置中選擇設(shè)置需要測試的高壓電壓，然后保存返回（如圖5—12），長按“啟動測試”開始測量，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—13）。測試結(jié)果自動保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

1.6、LCR測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，按照【正接法（常規(guī)接線）】或者【反接法（常規(guī)接線）】然后點(diǎn)擊主界面“LCR測試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等LCR測試菜單。

然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單進(jìn)行詳細(xì)的測試參數(shù)設(shè)置。分別點(diǎn)擊每個需要設(shè)置的項(xiàng)目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測試界面，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測試界面。長按“啟動測試”開始測量，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—14）。測試結(jié)果自動保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

絕緣電阻功能超高壓變頻介質(zhì)損耗測試儀的能量損耗怎么計(jì)算？1.7、絕緣測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，然后點(diǎn)擊主界面“絕緣測試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等絕緣測試菜單。然后可選擇測試方式為正接法或反接法，選擇合適的測試電壓。設(shè)置好相關(guān)參數(shù)之后即可點(diǎn)擊下方“極化指數(shù)”“吸收比”“絕緣電阻”進(jìn)行測試。

1.8、數(shù)據(jù)查詢

在主菜單點(diǎn)擊“數(shù)據(jù)管理”進(jìn)入數(shù)據(jù)管理界面（如圖5—16），點(diǎn)擊“數(shù)據(jù)查詢”進(jìn)入。進(jìn)入數(shù)據(jù)存放菜單（如圖5—17）后，按上、下鍵移動光標(biāo)至想要查看的數(shù)據(jù)項(xiàng)目上，（儀器所保存的數(shù)據(jù)均是按照測量時間的先后所排列的，第000個數(shù)據(jù)即*新數(shù)據(jù)，第199個數(shù)據(jù)即*老數(shù)據(jù)。）再點(diǎn)擊相應(yīng)的數(shù)據(jù)，進(jìn)入數(shù)據(jù)打印項(xiàng)目，在此菜單里面可以按上，下鍵翻頁至相應(yīng)的數(shù)據(jù)序號上，可對數(shù)據(jù)進(jìn)行打印操作。

1.9、參數(shù)設(shè)置

打開儀器后直接點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)入時間設(shè)置界面。進(jìn)入時間菜單（如圖5—18）后，點(diǎn)擊想要修改的時間數(shù)據(jù)項(xiàng)目上，然后再按增加、減小鍵調(diào)整相應(yīng)的“時” 、“分” 、“秒” ，*后點(diǎn)擊保存修改時間設(shè)置，點(diǎn)擊取消退出設(shè)置并返回主界面。

※ 注：

所有圖片并非實(shí)物的全部描敘，請以實(shí)際儀器界面為主，僅做參考。

所有步驟在設(shè)置不當(dāng)或想再次改變的情況下，均可按取消鍵返回上一步驟，如果按取消鍵不能實(shí)現(xiàn)返回。則可以直接按復(fù)位鍵退到主菜單重新開始設(shè)置。

二、參考接線

（具體請參閱相關(guān)規(guī)程）

1、正接法

1、內(nèi)電壓—內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)—正接法（電容常規(guī)接線）

2、內(nèi)電壓—正接法（絕緣電阻接線）

3、內(nèi)電壓—外標(biāo)準(zhǔn)—正接法（必須先設(shè)置好外接標(biāo)準(zhǔn)容量）

4、外電壓—內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)—正接法

5、外電壓—外標(biāo)準(zhǔn)—正接法（必須先設(shè)置好外標(biāo)準(zhǔn)容量） 

2、反接法

1、內(nèi)電壓—內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)—反接法（常規(guī)接線）

2、內(nèi)電壓—外標(biāo)準(zhǔn)—反接法（必須先設(shè)置好外標(biāo)準(zhǔn)容量）

3、外電壓—內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)—反接法

4、外電壓—外標(biāo)準(zhǔn)—反接法（必須先設(shè)置好外標(biāo)準(zhǔn)容量）

3、CVT測試(注意：CVT測試時高壓線應(yīng)懸空不能接觸地面，否則其對地附加介損會引起誤差。)

1、CVT同時測試

（一次完成測試）

2、CVT分別測試

（普通測試）

3、不拆高壓引線測試CVT電容值和介損測量模式：CVT自激法。電壓≤ 2kV

4、反接屏蔽法測量CVT上端C0的電容值和介損測量模式：反接法。電壓≤2kV

4、CVT變比測試

5、正反同測

三繞組變壓器CHG+CHL（高壓線屏蔽接T繞組）

三繞組變壓器CLG+CLT（高壓線屏蔽接HV繞組）

三繞組變壓器CTG+CHT（高壓線屏蔽接LV繞組）

在電壓很高或頻率很高的場合，介質(zhì)損耗將顯著增大，引起介質(zhì)的溫度上升，絕緣的電氣性能下降，介質(zhì)損耗的程度可以用介質(zhì)損失角正切tanδ來表示。它是一個只與材料特性有關(guān)，而與材料尺寸或所加電壓無關(guān)的物理量。

介質(zhì)損耗測試儀主要針對于發(fā)電廠、變電站等現(xiàn)場或?qū)嶒?yàn)室的各種高壓電力設(shè)備介損正切值及電容量的測量。異頻全自動介質(zhì)損耗測試儀可以有效地發(fā)現(xiàn)電氣設(shè)備絕緣的整體受潮劣化以及局部缺陷等，廣泛適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、電力電纜等設(shè)備的介損測量。

前面講的電介質(zhì)的極化和電導(dǎo)可以看出，介質(zhì)在電壓作用下有能量損耗。一種是由電導(dǎo)引起的損耗；另一種是由某種極化引起的損耗，如極性介質(zhì)中偶極子轉(zhuǎn)向極化等。電介質(zhì)在電壓作用下的能量損耗簡稱介質(zhì)損耗。

在直流電壓下，由于介質(zhì)中沒有周期性的極化過程，因此，當(dāng)外施電壓低于發(fā)生局部放電的電壓時，介質(zhì)中的損耗僅由電導(dǎo)所引起，這時用體積電導(dǎo)率和表面電導(dǎo)率兩個物理量已能夠表達(dá)，所以直流電壓下不需要再引入介質(zhì)損耗這個概念。在交流電壓下，除電導(dǎo)損耗外，還由于周期性的極化而引起能量損耗。

設(shè)有交流電壓。作用于某介質(zhì)。由于介質(zhì)中有損耗，所以電流/不是純粹的電容電流，而是包含有功和無功兩個分量ir和ic，即i=ir+ic所以電源供給的視在功率W=P+jQ=U（Ir+jIc）=UIr+jUIc。于是介質(zhì)損耗P=Qtanδ，δ稱介質(zhì)損失角，它是功率因數(shù)角的余角。